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项目 Item |
内容 Content |
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| 标准代码 Standard Code |
GB/T 20176-2006 |
| 标准类别 Standard Class |
GB |
| 标准中文名称 Standard English Title |
表面化学分析 二次离子质谱 用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度 |
| 标准英文名称 Standard Chinese Title |
Surface chemical analysis-Secondary-ion mass spectrometry-Determination of boron atomic concentration in silicon using uniformly doped materials |
| 订购 Order |
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