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项目 Item |
内容 Content |
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| 标准代码 Standard Code |
GB/T 24578-2009 |
| 标准类别 Standard Class |
GB |
| 标准中文名称 Standard English Title |
硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法 |
| 标准英文名称 Standard Chinese Title |
Test method for measuring surface metal contamination on silicon wafers by total reflection X-ray fluorescence spectroscopy |
| 订购 Order |
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